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熱流儀工作原理

簡要描述:熱流儀工作原理適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

  • 產(chǎn)品型號:QSWQ7100
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-22
  • 訪  問  量:6939
詳情介紹

熱流儀工作原理控制系統(tǒng)

1.15寸超大人機介面

2.支持USB、LAN,可實現(xiàn)電腦手機遠程操控

3.二種檢測模式:AIR NODE 和DUT MODE

4.運行模式

1)手操:手動切換/自動循環(huán)。

2)程序:手動切換/ 自動循環(huán)。

熱流儀工作原理滿足試驗標準:

1.GB/T 2423.1-2008試驗A:低溫試驗方法;

2.GB/T 2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法;

3.GB/T2423.22-2012試驗N: 溫度變化試驗方法

4. GJB/150.3-2009高溫試驗

5. GJB/150.4-2009低溫試驗          

6. GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗

熱流儀工作原理工作模式:

A)2路主空氣管輸出,由分布頭分為8路供氣,帶2套1拖8 系統(tǒng)

B) 2種檢測模式Air Mode和DUT Mode

測試和循環(huán)于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫)

熱流儀工作原理

1、試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住,形成一個較密閉空間的測試腔,試驗機輸出的高溫或低溫氣流,使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化,從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗;

2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快。

熱流儀工作原理可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快。

是將被控制溫度的壓縮機空氣從氣嘴噴射出來,僅僅只需要數(shù)秒鐘的時間就可以達到一個溫度試驗必須的環(huán)境,與普通的高低溫沖擊試驗箱相比較,大大的縮短了試驗時間,提高生產(chǎn)效率。

熱流儀工作原理技術(shù)參數(shù):



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